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| BGA, CSP, Flip Chip 부품들은 PCB
패턴과의 접촉부위가 부품의 밑면에 있으므로 냉납, 쇼트, Open, Void 현상들을 육안이나 Vision
검사가 불가능하기 때문에 X-ray 투시를 통한 비파괴 검사를 하여야만 한다. |
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| 검사한
부품의 실시간 이미지 Processing이 가능하며, 강력한 소프트웨어 기능으로 불량 발생 부품의 위치, 크기
측정, 원인파악, 분석, 저장이 가능합니다 |
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X-ray카메라 기술특허를 보유하여 고해상도, 고화질의 화면구성. |
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Voltage Blooming 효과(Voltage가 높을수록 Solder Void가 실제보다 크게 보이는
현상)제거로 정확한 검사가능. |
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동종 성능의 장비보다 가격이 낮으며 크기가 작음. |
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안전한 설계.(CFR 12Section 1020.40 방사선 안전요구에 만족) |
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간단한 조작과 우수한 품질로 국내외에서 널리사용. |
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BGA 전용 Analyzer S/W 제공, 업계최초의 S/W로 사용자가 임의로 Pass/Fail를 정하여
지정된 Quality Level을 충족가능. 따라서 공정개발 단계에서 발생가능성 있는 잠재적 문제점(솔더 Paste의
균일성, 온도변화, 부품내부의 압력, 오염 등)을 해결가능. |
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Power : 120V or 220V/50~60Hz |
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Anode Voltage : 90kv |
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Focal Spotsize : 4micron |
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Magnification : x7 up to x2,000 |
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Video Printer for Hard Copy |
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Wheeled Cabinet Base |
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BGA Analysis and Measurement Software |
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| 적용가능한 분야 |
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X-Ray series |
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비고 |
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| 다층기판 PCB 및 실장핀 PCB 검사 |
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RTX-mini |
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휴대형 Size로 여구소에 적합 |
| 다층기판, Small Hole, Flip Chip, BGA, CSP검사 |
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RTX-113 |
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PCB 제조업체에서 사용적합 |
| PCB 표면검사, 투시검사 |
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RTX-Dual-UV |
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Dual Vision으로 동시에 PCB 표면검사, 투시검사 가능 |
| RTX-Dual-UV의 상위기종으로 위치, 배율, 명암율 등의 Program을 미리 설정하여 검사가능 |
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RTX-2500 |
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1998년 VisionAward 수상 제품(미국)
Cual Vision으로 동시에 PCB 표면검사, 투시검사 가능 |
| BGA, CSP, Flip Chip, IC등의 검사에 적합 |
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Jewel Box 90-c |
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성능대비 경제적 가격 |
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